為什么要進(jìn)行耐電壓測(cè)試

電介質(zhì)強(qiáng)度測(cè)試, 亦稱hi-pot 測(cè)試, 大概是多人知道的和經(jīng)常執(zhí)行的生產(chǎn)線安全測(cè)試。實(shí)際上，表明它的重要性是每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的一部分。 hi-pot 測(cè)試是確定電子絕緣材料足以抵抗瞬間高電壓的一個(gè)非破壞性的測(cè)試。

這是適用于所有設(shè)備為保證絕緣材料是足夠的一個(gè)高壓測(cè)試。

進(jìn)行hi-pot 測(cè)試的其它原因是, 它可以查出可能的瑕疵譬如在制造過(guò)程期間造成的漏電距離和電氣間隙不夠。

進(jìn)行型式測(cè)試的時(shí)候, hi-pot 測(cè)試是在某些測(cè)試（譬如失效, 潮態(tài)及振動(dòng)測(cè)試）之后進(jìn)行來(lái)確定是否因?yàn)檫@些測(cè)試造成絕緣的退化。但是，日常生產(chǎn)進(jìn)行的hi-pot 測(cè)試, 是制造過(guò)程中的測(cè)試來(lái)確定是否所生產(chǎn)的產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)是與型式測(cè)試所用產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)相同。

一些由生產(chǎn)流程造成的缺陷可以通過(guò)在線hi-pot 測(cè)試檢查出來(lái)，例如, 變壓器繞組電氣間隙和爬電距離減小。

這樣的故障可能起因于繞線部門的一名新操作員。

其它例子包括檢查絕緣材料的針孔瑕疵或發(fā)現(xiàn)一個(gè)過(guò)大的焊點(diǎn)。

大多數(shù)安全標(biāo)準(zhǔn)使用2xU + 1000 V 的慣例作為基本的絕緣材料測(cè)試的依據(jù), 這里的U 是操作電壓（rms值）。

這個(gè)慣例僅僅作為一個(gè)指導(dǎo), 對(duì)于個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)特別是IEC 60950 提供了一個(gè)具體的表格來(lái)定義根據(jù)測(cè)量到的實(shí)際工作電壓來(lái)確定確切的測(cè)試電壓1.至于使用1000 V 作為基本慣例的原因是產(chǎn)品的絕緣材料在日常使用中可能承受瞬間過(guò)電壓。

實(shí)驗(yàn)和研究表示, 這些過(guò)電壓通常高達(dá)1000 V 。

耐電壓測(cè)試儀測(cè)試方法：

高壓通常是應(yīng)用的在橫跨被測(cè)試絕緣材料的二個(gè)部件之間, 譬如測(cè)試設(shè)備（EUT）的一次側(cè)電路（Primary Circuit）和金屬外殼。

如果絕緣材料在兩個(gè)部件之間是足夠的, 那么加在兩個(gè)由絕緣體分離的導(dǎo)體之間的大電壓只能產(chǎn)生非常小的電流流過(guò)絕緣體。

雖然這個(gè)小電流是可接受的, 但是空氣絕緣或固體絕緣不應(yīng)該發(fā)生擊穿。

因此, 需要注意這個(gè)電流是因?yàn)榫植糠烹娀驌舸┑慕Y(jié)果, 而不是由于電容聯(lián)結(jié)引起的。

另外一個(gè)例子是對(duì)介于電源的一次（Primary）和二次（Secondary）電路之間的絕緣材料進(jìn)行測(cè)試。

這時(shí)所有輸出短接在一起。

耐壓測(cè)試儀的接地探針與短接在一起的輸出相連, 同時(shí)高壓探針與L 和N連接（L和N短接） (參見圖1) 。在hi-pot 測(cè)試期間EUT 不工作。

必須注意, 在進(jìn)行型式測(cè)試期間, 理想的情況是先加低于規(guī)定的電壓的1/2, 然后逐漸上升，并且在10 秒中達(dá)到規(guī)定電壓，并且維護(hù)1 分鐘。

然而，大多數(shù)測(cè)試儀器, 直接輸出規(guī)定電壓或使用一個(gè)電子控制線路來(lái)實(shí)現(xiàn)電壓的爬升。

耐電壓測(cè)試儀測(cè)試持續(xù)時(shí)間：

如果測(cè)試是代表認(rèn)證過(guò)程的一部分, 那么測(cè)試持續(xù)時(shí)間必須是所使用的安全標(biāo)準(zhǔn)相符合。