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AT5120多路電阻測(cè)試儀 是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、可以對(duì)20路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示20路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5120可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，大顯示30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能,可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，可使用RS232C及HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào)，以提高生產(chǎn)自動(dòng)化

更新日期：2020-04-07

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AT5108多路電阻測(cè)試儀 是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程，可以對(duì)8路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示10路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5108可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，大顯示30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，可使用RS232C及HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào)，以提高生產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試

更新日期：2020-04-07

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AT5110多路電阻測(cè)試儀 是高精度寬量程多路電阻測(cè)試儀，可對(duì)10路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示10路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5110可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，大顯示30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可適應(yīng)不同要求的測(cè)試。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，可使用RS232C及HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào)，以提高生產(chǎn)自動(dòng)化設(shè)備

更新日期：2020-04-07

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AT510X6多路電阻測(cè)試儀 是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀，定制量程，從1μΩ～400KΩ，大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得多路測(cè)試周期高達(dá)20ms/次，AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)120個(gè)器件的測(cè)試。 配備Handler接口，將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。

更新日期：2020-04-07

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AT51X8多路電阻測(cè)試儀 是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、并行測(cè)量的多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)8路電阻進(jìn)行同時(shí)測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示8路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT51X8可以測(cè)試1μΩ～300KΩ的電阻，大顯示30,000數(shù)。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，可使用RS232C及HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào)，以提高生產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試能力!

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AT511C直流電阻測(cè)試儀 是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的直流低電阻測(cè)試儀，是 AT511M 的升級(jí)版本。 AT511C 相對(duì)于前代產(chǎn)品 AT511M，具有更廣的測(cè)試范圍：0.1mΩ～50.00kΩ，大顯示 5000 數(shù)。同時(shí)提升了測(cè)試速度：快可達(dá) 10 次/秒且讀數(shù)穩(wěn)定。改良的全自動(dòng)量程測(cè)試電路，全電子開(kāi)關(guān)的設(shè)計(jì)，可瞬間完成從高量程到低量程的切換。

更新日期：2020-04-07

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